À̽Âö ȸ¿ø (Æ÷Ç×°ø´ë), ±è¼¼Á¾ ȸ¿ø (KIMS) °øµ¿¿¬±¸ÆÀ, ÀΰøÁö´ÉÀ¸·Î Àç·á ¹Ì¼¼±¸Á¶ À̹ÌÁö Ç°Áú Çâ»ó½ÃÅ°´Â ±â¼ú °³¹ß
AI, ÀüÀÚÇö¹Ì°æ »çÁøµµ ´õ ±ú²ýÇÏ°Ô, ¼±¸íÇÏ°Ô
POSTECH-Çѱ¹Àç·á¿¬±¸¿ø °øµ¿¿¬±¸ÆÀ, »ç¶÷ °³ÀÔ ¾øÀÌ ÀΰøÁö´É ½º½º·Î Àç·á ¹Ì¼¼±¸Á¶ À̹ÌÁö Ç°Áú Çâ»ó½ÃÅ°´Â ±â¼ú °³¹ß
4Â÷ »ê¾÷Çõ¸í ½Ã´ë¸¦ ¸Â¾Æ ÃÖ±Ù ÀΰøÁö´ÉÀº ½º¸¶Æ®Æù Ä«¸Þ¶ó¿¡ Àû¿ëµÇ¾î ¿ÀÅäÆ÷Ä¿½Ì, ¾ó±¼ÀνÄ, 100¹è ÁÜ µîÀÇ ±â´ÉÀ» Á¦°øÇϸ鼭 ÀÏ»ó»ýÈ°ÀÇ ÆíÀǼºÀ» ȹ±âÀûÀ¸·Î ³ô¿©ÁÖ´Â ÇÑÆí, ½Å¼ÒÀç ¿¬±¸°³¹ß °úÁ¤¿¡µµ È°¹ßÇÏ°Ô Àû¿ëµÇ°í ÀÖ´Ù.
 
POSTECHÀÌ Çѱ¹Àç·á¿¬±¸¿ø°ú °øµ¿¿¬±¸¸¦ ÅëÇØ ½Å¼ÒÀç °³¹ß °úÁ¤¿¡¼­ ÇʼöÀûÀ¸·Î »ç¿ëµÇ´Â Àç·áºÐ¼® ÀåºñÀÎ ÁÖ»çÀüÀÚÇö¹Ì°æ ½Ã½ºÅÛ¿¡ ÀΰøÁö´É ±â¼úÀ» Àû¿ëÇÔÀ¸·Î½á »ç¶÷ÀÇ °³ÀÔ ¾øÀÌ ÀΰøÁö´É ½º½º·Î Àç·á ¹Ì¼¼±¸Á¶ À̹ÌÁöÀÇ Ç°ÁúÀ» ÆǺ°ÇÏ°í Çâ»ó½Ãų ¼ö ÀÖ´Â ±â¼úÀ» °³¹ßÇß´Ù. À̹ø ¿¬±¸¼º°ú´Â ±Ý¼ÓÀç·á ºÐ¾ßÀÇ ÃÖ°í ÇмúÁöÀÎ ¡®¾ÇŸ ¸ÓÅ͸®¾ó¸®¾Æ(Acta Materialia)¡¯¿¡ ÃÖ±Ù °ÔÀçµÆ´Ù.
 
ÁÖ»çÀüÀÚÇö¹Ì°æÀº ¸¶ÀÌÅ©·Î ´ÜÀ§¿¡¼­ Àç·á ¹Ì¼¼Á¶Á÷ À̹ÌÁö Á¤º¸¸¦ Á¦°øÇÔÀ¸·Î½á ¹Ì¼¼Á¶Á÷°ú ¹°¸®, È­ÇÐ, ±â°èÀû Ư¼º°úÀÇ »ó°ü°ü°è¸¦ ±Ô¸íÇϱâ À§ÇØ ÇʼöÀûÀ¸·Î »ç¿ëµÇ´Â ÷´Ü Àç·áºÐ¼® Àåºñ Áß ÇϳªÀÌ´Ù. ±×·¯³ª, °íÇ°ÁúÀÇ ¼±¸íÇÑ ÁÖ»çÀüÀÚÇö¹Ì°æ À̹ÌÁö¸¦ ȹµæÇϱâ À§Çؼ­´Â ½ÇÇèÀÚÀÇ ³ôÀº ¼÷·Ãµµ¿Í ¼¼¹ÐÇÑ ±â±âÁ¶ÀÛÀÌ ÇʼöÀûÀ¸·Î ¿ä±¸µÇ¸ç ±×·¸Áö ¸øÇÒ °æ¿ì È帴ÇÑ ÀúÇ°ÁúÀÇ ¹Ì¼¼Á¶Á÷ À̹ÌÁö°¡ ÃøÁ¤µÉ ¼ö ÀÖ´Ù. ÀÌ·¯ÇÑ ÀúÇ°ÁúÀÇ À̹ÌÁö´Â µÚÀÌ¾î ¼öÇàµÇ´Â Àç·áºÐ¼® °úÁ¤µé¿¡ ÈļÓÀûÀ¸·Î ¿µÇâÀ» ¹ÌÄ¡±â ¶§¹®¿¡ À̹ÌÁö Ç°ÁúÀº °³¼± µÇ¾î¾ß ÇÒ Çʿ伺ÀÌ ÀÖ´Ù.
 
°øµ¿¿¬±¸ÆÀÀº µö·¯´× ±â¼úÀ» È°¿ëÇÏ¿© ¹Ì¼¼±¸Á¶ À̹ÌÁöÀÇ Ç°ÁúÀ» ÀÚµ¿À¸·Î ÆǺ°ÇÏ°í Çâ»ó½ÃÅ°´Â ±â¼úÀ» °³¹ßÇß´Ù. ƯÈ÷ °³¹ßµÈ ±â¼úÀº ´ÙÁß½ºÄÉÀÏ µö´º·² ³×Æ®¿öÅ©(Multi-scale deep neural network)¸¦ ±â¹ÝÀ¸·Î Çϸç È帴ÇÑ Á¤µµ¿Í À̹ÌÁö Ç°Áú ÀúÇÏ ¼öÁØ¿¡ ´ëÇÑ ¾î¶°ÇÑ »çÀüÁö½ÄÀ̳ª °¡Á¤ ¾øÀ̵µ ¹Ì¼¼±¸Á¶ À̹ÌÁöÀÇ Ç°ÁúÀÌ Çâ»óµÉ ¼ö ÀÖÀ½À» º¸¿´´Ù. ¶ÇÇÑ À̹ÌÁö ³»ÀÇ ºÒ±ÕÀÏÇÑ Ç°Áú ¿­È­ ¹®Á¦¿¡ ´ëÀÀÇϱâ À§ÇÏ¿© ÀΰøÁö´ÉÀÌ ¹Ì¼¼±¸Á¶ À̹ÌÁöÀÇ ¾î´À ¿µ¿ªÀ» ¾ó¸¶³ª Â÷º°ÀûÀ¸·Î º¹¿øÇÒ °ÍÀΰ¡¸¦ ½º½º·Î ÇнÀÇϵµ·Ï ÇÏ´Â ±â¹ýÀ» Á¦¾ÈÇÏ¿© ÀΰøÁö´ÉÇü Àç·áºÐ¼® ÀåºñÀÇ ½Ç¿ëÈ­¿¡ ÇÑ ¹ß ´õ ´Ù°¡¼¹´Ù.
 
¿¬±¸¸¦ ÁÖµµÇÑ À̽Âö ±³¼ö´Â ¡°½Å¼ÒÀç ¿¬±¸°³¹ßÀ» À§ÇØ ±¤¹üÀ§ÇÏ°Ô »ç¿ëµÇ´Â ÁÖ»çÀüÀÚÇö¹Ì°æÀÇ Àç·á ¹Ì¼¼Á¶Á÷ ¿µ»óÈ­ °úÁ¤À» ÀÚµ¿È­ÇÔÀ¸·Î½á »õ·Î¿î ¼ÒÀçÀÇ °³¹ß ºñ¿ë°ú ½Ã°£À» ´ÜÃà½Ãų ¼ö ÀÖÀ» °ÍÀ¸·Î ±â´ëÇÑ´Ù¡±¶ó°í ¸»Çß´Ù.
 
ÇÑÆí, ÀÌ ¿¬±¸´Â Çѱ¹¿¬±¸Àç´ÜÀÇ Áß°ß¿¬±¸ÀÚÁö¿ø»ç¾÷ ¹× ´ëÇÐÁßÁ¡¿¬±¸¼Ò Áö¿ø»ç¾÷, Á¤º¸Åë½Å±âȹÆò°¡¿øÀÇ ÀΰøÁö´É Çٽɰí±ÞÀÎÀç¾ç¼º»ç¾÷, Çѱ¹Àç·á¿¬±¸¿øÀÇ Áö¿øÀ¸·Î ¼öÇàµÆ´Ù.
 
¡á ³í¹® Á¤º¸
*³í¹®¸í: Deep learning-based discriminative refocusing of scanning electron microscopy images for materials science
*URL: https://doi.org/10.1016/j.actamat.2021.116987
 
-Ãâó: POSTECH ¿¬±¸¼º°ú