ÃÖâȯ ȸ¿ø (ÇѾç´ë), 3Â÷¿ø Ç÷¡½Ã ¸Þ¸ð¸® ¼ÒÀÚÀÇ ´ÙÄ¡È­ °¡´ÉÇÑ °­À¯Àüü ½Å¼ÒÀç °³¹ß

³» ´ëÇÐ À¯ÀÏ Symposium on VLSI Technology ÇÐȸ 13°³ Highlight ±â¼ú ³í¹®À¸·Î ¼±Á¤


¡ã ÇѾç´ë ½Å¼ÒÀç°øÇаú ÃÖâȯ ±³¼ö

¿ì¸® ÇÐȸ ÇмúÀÌ»çÀÎ ÇѾç´ë ½Å¼ÒÀç°øÇаú ÃÖâȯ ±³¼ö ¿¬±¸ÆÀÀÌ 3Â÷¿ø Ç÷¡½Ã ¸Þ¸ð¸® ¼ÒÀÚÀÇ °í´ÜÈ­ ¹× ÀúÀü·Â ¹®Á¦¸¦ ÇØ°áÇÒ ¼ö ÀÖ´Â »õ·Î¿î °­À¯Àüü ½Å¼ÒÀç ¿¬±¸ °á°ú¸¦ 2020³â 6¿ù 14ÀÏ~19ÀÏ°£ ¿­¸° ¡®IEEE Symposia on VLSI Technology and Circuits¡¯¿¡ ¹ßÇ¥Çß´Ù. ƯÈ÷, º» ¿¬±¸ °á°ú´Â ±â¼úÀ§¿øȸ°¡ ¼±Á¤ÇÑ 13°³ Highlight ±â¼ú ³í¹®À¸·Î äÅõǾî ÇÐȸ ¹Ìµð¾îÇÁ·¹½º¿¡ ¼Ò°³µÇ¾î ÁÖ¸ñ¹Þ°í ÀÖ´Ù. °­À¯Àüü´Â ¿ÜºÎ¿¡¼­ Àü±âÀåÀ» °¡ÇÏÁö ¾ÊÀº »óȲ¿¡¼­µµ µÎ °¡Áö ÀÌ»óÀÇ ºÐ±ØÀ» °®´Â Àç·áÀÌ´Ù.

¿ÃÇØ·Î 40ÁÖ³âÀ» ¸ÂÀÌÇÑ Symposia on VLSI Technology and Circuits´Â International Electron Device Meeting(IEDM)°ú ÇÔ²² ¹ÝµµÃ¼ ºÐ¾ß¿¡¼­ ÃÖ°íÀÇ ±ÇÀ§¸¦ °¡Áø ÇÐȸ·Î ¸Å³â ¹ÝµµÃ¼ ±â¼ú ºÐ¾ß ÃֽŠ¿¬±¸ ³»¿ëÀ» ¹ßÇ¥ÇÏ°í, ¼¼°è °¢±¹ÀÇ ¹ÝµµÃ¼ ±â¾÷ ¹× Çа迡¼­ Åõ°íÇÑ ³í¹® Áß °¡Àå ¶Ù¾î³­ ¼Ò¼öÀÇ ³í¹®À» ¼±Á¤ÇÑ´Ù. ¿ÃÇØ´Â Äڷγª¹ÙÀÌ·¯½º·Î virtual Çü½ÄÀ¸·Î °³ÃֵǾúÁö¸¸ ÃÖ±Ù 10³â°£ ¿­¸° ÇÐȸ Áß ¿ª´ë ÃÖ°íÀÇ °æÀï·üÀ» º¸¿´°í Åõ°íµÈ ÃÑ 248°ÇÀÇ ³í¹® Áß 86°ÇÀÌ ³í¹®ÀÌ Ã¤ÅõǾú´Ù. ±×Áß ´Ü 29ÆíÀÇ ³í¹®¸¸ÀÌ ´ëÇб³¿¡¼­ ÀÛ¼ºµÈ °ÍÀ¸·Î, À̹ø ÃÖâȯ ±³¼ö ¿¬±¸ÆÀÀÇ ¿¬±¸ ¼º°ú´Â ÀǹÌÇÏ´Â ¹Ù°¡ Å©´Ù. ÇöÀç 3Â÷¿ø Ç÷¡½Ã ¸Þ¸ð¸® ¼ÒÀÚ´Â ½Ç¸®ÄÜ ¿Á»çÀ̵å, ½Ç¸®ÄÜ ³ªÀÌÆ®¶óÀ̵å, ½Ç¸®ÄÜ ¿Á»çÀ̵å (ONO)·Î ±¸¼ºµÈ ¹Ú¸· Àç·á¸¦ ÀüÇÏ ÀúÀåÃþÀ¸·Î »ç¿ëÇϸç 20 nm Á¤µµÀÇ µÎ²²¸¦ °®´Â´Ù´Ù. 3D Ç÷¡½Ã ¸Þ¸ð¸® ¼ÒÀÚÀÇ ¼º´É °³¼±À» À§ÇØ Áö¼ÓÀû °í´ÜÈ­°¡ ÇÊ¿äÇϳª ±âÁ¸ ONO ¹Ú¸·Àº µÎ²²¸¦ ÁÙÀ̱Ⱑ ¾î·Æ°í »õ·Î¿î ´ëü ¹Ú¸· Àç·á´Â ´ÙÄ¡È­(MLC, Multi-level cell)ÀÇ ¾î·Á¿òÀÌ ÀÖ¾î ½Å¼ÒÀç °³¹ßÀÌ ÇÊ¿äÇÏ´Ù.


¡ã ±Þ¼Ó ³Ã°¢À¸·Î AlHfO2 ¼ÒÀç¿¡ °­À¯Àüü ¼ºÁúÀ» ¶ç°Ô ¸¸µç ÃÖâȯ ±³¼ö ¿¬±¸ÆÀ

ÃÖ ±³¼öÆÀÀº ¾Ë·ç¹Ì´½ µµÇÎµÈ HfO2 (Al:HfO2) ¹Ú¸· Àç·á¸¦ Å»À̿¼ö¿¡¼­ °í¼Ó ±Þ·©ÇÔÀ¸·Î½á ºñ¾àÀûÀ¸·Î Çâ»óµÈ ÀÜ·ù ºÐ±Ø (Pr)°ú Ç×Àü±âÀå (Ec)À» °®´Â »õ·Î¿î °­À¯Àüü ¹Ú¸·À» º¸°íÇÏ¿´´Ù. À̸¦ Àû¿ëÇÑ Ç÷¡½Ã ¸Þ¸ð¸® ¼ÒÀÚ´Â MLC ±¸Çö, ¾ÈÁ¤ÀûÀÎ 100¸¸ ¹ø ¾²°í/Áö¿ì±â¿Í 10³âÀÇ µ¿ÀÛ ½Å·Ú¼ºÀÌ °¡´ÉÇÏ¸ç ¹Ú¸· ³»ºÎÀÇ ³ôÀº ÀÀ·Â°ú º¯ÇüÀ» ÅëÇØ ¾ÈÁ¤µÈ »ç¹æÁ¤°è »ó(Orthorhombic phase)À» À¯µµÇϱ⠶§¹®¿¡ °­À¯Àüü Ư¼ºÀÌ Çâ»óµÈ´Ù°í º¸°íÇÏ¿´´Ù.

ÃÖâȯ ±³¼ö´Â ¡°°­À¯Àüü¹Ú¸· Àç·á ¼¼¼Ç¿¡ äÅÃµÈ ÃÑ 8ÆíÀÇ ³í¹® Áß ±â¾÷ 5Æí, ´ëÇÐ 3ÆíÀ̸ç, ±¹³» ´ëÇÐÀº ÇѾç´ë ¿¬±¸ÆÀÀÌ À¯ÀÏÇÏ´Ù¡±¶ó¸ç ¡°¼ø¼ö ´ëÇבּ¸·Î ¹ßÇ¥ÇÏ´Â °ÍÀº ¸Å¿ì ÀÌ·ÊÀûÀÌ°í À̹ø ¿¬±¸´Â °í´ÜÈ­¿Í MLC ±¸ÇöÀÌ °¡´ÉÇÑ °­À¯Àüü ¹Ú¸· ±â¹Ý 3Â÷¿ø Ç÷¡½Ã ¸Þ¸ð¸®¼ÒÀÚ °³¹ß¿¡ ±â¿©ÇÒ ¼ö ÀÖÀ» °ÍÀ¸·Î ±â´ëÇÑ´Ù¡±¶ó°í ¸»Çß´Ù.

* ¿ë¾î¼³¸í
  1. °­À¯Àüü : °­À¯Àüü´Â ¿ÜºÎ¿¡¼­ Àü±âÀåÀ» °¡ÇÏÁö ¾Ê¾Æµµ µÎ °¡Áö ÀÌ»óÀÇ Àü±âÀû ºÐ±ØÀ» °®´Â Àç·á¸¦ ÀǹÌÇÑ´Ù.
  2. ÀÜ·ù ºÐ±Ø (Remanent Polarization, Pr)Àü±â °­À¯Àüü Àç·á¿¡¼­ ¿ÜºÎÀÇ Àü±âÀåÀÌ ¾ø´Â »óÅ¿¡¼­ Á¸ÀçÇÏ´Â Àü±â ºÐ±Ø°ª
  3. Ç×Àü±âÀå (Coercive field, Ec)¿¬¼ÓÇÏ¿© ¹Ýº¹µÇ´Â °­À¯ÀüüÀÇ ÁÖ È÷½ºÅ׸®½Ã½º °î¼±»óÀÇ Àü¼Ó¹Ðµµ°¡ ¿µÀÌ µÇ´Â Àå¼Ò¿¡¼­ÀÇ Àü°èÀÇ ¼¼±â¸¦ À̸¥´Ù. Áï, ºÐ±Ø°ªÀÌ 0ÀÌ µÇ±â À§ÇØ °¡ÇØÁà¾ß ÇÏ´Â ¹Ý´ë ¹æÇâÀÇ Àü±âÀåÀÇ Å©±â

* ³í¹®¸í : Fast Thermal Quenching on the Ferroelectric Al:HfO2 Thin Film with Record Polarization Density and Flash Memory Application

-Ãâó: ÇѾ紺½º