È«½Â¹ü ȸ¿ø (KAIST) ¿¬±¸ÆÀ, ¸®Æ¬ÀÌÂ÷ÀüÁö ½Ç¸®ÄÜ ±â¹Ý À½±ØÀÇ ¼ö¸í°ú °ü·ÃµÈ ÀüÀÚÀüµµµµ ÅðÈ­¸¦ ³ª³ë½ºÄÉÀÏ¿¡¼­ ¿µ»óÈ­ ¼º°ø


¡ã(¿ÞÂʺÎÅÍ) ½Å¼ÒÀç°øÇаú ¹Ú°Ç ¹Ú»ç°úÁ¤, È«½Â¹ü ±³¼ö


°í¿¡³ÊÁö ¹Ðµµ¸¦ °®´Â ¸®Æ¬ÀÌÂ÷ÀüÁö °³¹ß¿¡ ´ëÇÑ ¼ö¿ä°¡ Æø¹ßÀûÀ¸·Î Áõ°¡Çϸ鼭, ½Ç¸®ÄÜ ±â¹Ý À½±Ø °³¹ß¿¡ °üÇÑ ¿¬±¸°¡ È°¹ßÈ÷ ÀÌ·ïÁö°í ÀÖ´Ù. ½Ç¸®ÄÜ È°¹°ÁúÀº ±âÁ¸ À½±Ø È°¹°ÁúÀÎ È濬 ´ëºñ ³ôÀº ¿ë·® °ª(4200 mAh/g)À» °¡Áö°í ÀÖ¾î, °í¿¡³ÊÁö ¹Ðµµ¸¦ °¡Áö´Â ¸®Æ¬ÀÌÂ÷ÀüÁö¿ë À½±ØÀÇ À¯·ÂÇÑ È帷ΠÀÚ¸® Àâ°í ÀÖ´Ù. 

ÇÏÁö¸¸ ÃæÀü ¹× ¹æÀü °£ 400%¿¡ ´ÞÇÏ´Â ³ôÀº ºÎÇÇ ÆØâ/¼öÃà·üÀÌ ½Ç¸®ÄÜ È°¹°ÁúÀÇ »ó¾÷È­¸¦ ¹æÇØÇÏ°í ÀÖ´Ù. ½Ç¸®ÄÜ ±â¹Ý À½±ØÀÇ ±Þ°ÝÇÑ ºÎÇÇ º¯È­´Â ƯÈ÷ Àü±Ø ³» ÀüÀÚ Àü´Þ ½Ã½ºÅÛ¿¡ Å« ¾Ç¿µÇâÀ» ¹ÌÄ¡°í ÀÖÀ¸¸ç, À̸¦ º¸¿ÏÇϱâ À§ÇØ ´Ù¾çÇÑ µµÀüÀç ½Ã½ºÅÛÀ» Àû¿ëÇÏ´Â ¿¬±¸°¡ È°¹ßÈ÷ ÁøÇà ÁßÀÌ´Ù. Àü±Ø ³» ÀüÀÚ Àüµµ ä³ÎÀÇ È®º¸´Â, È°¹°Áú ³» ±ÕµîÇÑ Àü±âÈ­ÇÐ ¹ÝÀÀÀ» À¯¹ßÇϱâ À§ÇØ ÇʼöÀûÀÌÁö¸¸, À̸¦ ³ª³ë½ºÄÉÀÏ °ø°£ ºÐÇØ´ÉÀ» °®°í ¿µ»óÈ­ÇÏ´Â ¹æ¹ý·Ð¿¡ °üÇؼ­´Â ¸¹Àº ¿¬±¸°¡ ÁøÇàµÇÁö ¾ÊÀº ½ÇÁ¤ÀÌ´Ù. 

¿ì¸® ÇÐȸ ȸ¿øÀÎ KAIST ½Å¼ÒÀç°øÇаú È«½Â¹ü ±³¼ö ¿¬±¸ÆÀÀÌ LG¿¡³ÊÁö¼Ö·ç¼Ç°ú Çù¾÷ÇØ, ³ª³ë½ºÄÉÀÏ ºÐÇØ´ÉÀ¸·Î Àü±Ø ³» ÀüÀÚ Àüµµ ä³ÎÀ» ¿Ö°î ½ÅÈ£ ¾øÀÌ Á¤·®ÀûÀ¸·Î ÃßÃâÇÏ´Â ¹æ¹ý·ÐÀ» °³¹ßÇÏ´Â µ¥ ¼º°øÇß´Ù°í 11¿ù 8ÀÏ ¹àÇû´Ù. ¿¬±¸ÆÀÀº Àü±Ø ¼ÒÀç¿Í °°ÀÌ Ç¥¸é °ÅÄ¥±â°¡ Å« ½Ã·á¿¡¼­ Àüµµ¼º ¿øÀÚ°£·ÂÇö¹Ì°æ(Conductive Atomic Force Microscopy, C-AFM) ¿î¿ë ½Ã ¹ß»ýÇÏ´Â ¿Ö°î Á¤º¸ÀÎ ¿ë·®¼º Àü·ù(capacitive current)ÀÇ ¿øÀÎÀ» ±Ô¸íÇÏ°í, ÇǾ »ó°ü ºÐ¼® ¹æ¹ýÀ» ±â¹ÝÀ¸·Î ÇØ´ç ¿Ö°î Á¤º¸¸¦ Á¦°ÅÇß´Ù. ÀÌ ¹æ¹ý·ÐÀ» ½Ç¸®ÄÜ/È濬 ±â¹Ý º¹ÇÕ À½±Ø¿¡ Àû¿ëÇØ µµÀüÀç ¼ººÐ¿¡ µû¸¥ ÀüÀÚ Àüµµ ä³Î ¿µ»óÈ­¸¦ ½Ç½ÃÇßÀ¸¸ç, À̸¦ ÅëÇØ ´ÜÀϺ® ź¼Ò³ª³ëÆ©ºê(Signle-Walled Carbon Nano Tube, ÀÌÇÏ SWNCT)°¡ Àû¿ëµÈ Àü±ØÀÇ Àü±âÀû, Àü±âÈ­ÇÐÀû ¿ì¼ö¼ºÀ» ÀÔÁõÇÏ´Â µ¥ ¼º°øÇß´Ù.
 
¡ã ±×¸² 1. SiO/graphite À½±Ø À§¿¡¼­ C-AFM ¿î¿ë½Ã ½ºÄµ ¹æÇâ¿¡ µû¸¥ À̹ÌÁöÀÇ ÀÌÁú¼º. (a,b,c) ¿ÞÂÊ¿¡¼­ ¿À¸¥ÂÊ, (d,e,f) ¿À¸¥ÂÊ¿¡¼­ ¿ÞÂÊ. (g,h,i) ÇǾ »ó°ü°ü°è ºÐ¼®À» ÅëÇÑ ¿Ö°î ½ÅÈ£ ÃßÃâ. (j) ¿Ö°î ½ÅÈ£ÀÎ ¿ë·®¼º Àü·ùÀÇ ¿øÀÎÀ» ¼³¸íÇÏ´Â µµ½Ä

¿¬±¸ÆÀÀº À̹ø ¿¬±¸¸¦ ÅëÇØ ½Ç¸®ÄÜ ±â¹Ý Àü±Ø°ú °°ÀÌ È°¹°ÁúÀÇ ºÎÇÇ º¯È­°¡ Å« ½Ã½ºÅÛ¿¡¼­´Â ±âÁ¸ÀÇ Á¡Çü µµÀüÀç ´ëºñ ¼±ÇüÀÇ ±¸Á¶Àû ÀåÁ¡À» °®°í ÀÖ´Â SWCNT°¡ ¾ÈÁ¤ÀûÀÎ ÀüÀÚ Àüµµ ä³ÎÀ» È®º¸ÇÏ´Â µ¥ À¯¸®ÇÔÀ» º¸¿´´Ù. ¶ÇÇÑ SWCNT°¡ Æ÷ÇÔµÈ º¹ÇÕ Àü±ØÀÇ °æ¿ì, 130 »çÀÌŬ ÀÌÈÄ¿¡µµ È°¹°ÁúÀÇ ºÐ¼â°¡ º¸´Ù ¾ïÁ¦µÆÀ½À» º¸¿©ÁÖ¸ç, ÀüÀÚ Àüµµ ä³ÎÀÇ ºÒ±ÕÀϼºÀÌ È°¹°ÁúÀÇ ±¸Á¶Àû ¾ÈÁ¤¼º¿¡µµ ¿µÇâÀ» ¹ÌÄ¥ ¼ö ÀÖÀ½À» °¡¼³À» µé¾î ¼³¸íÇß´Ù. 

Á¦1 ÀúÀÚÀÎ ½Å¼ÒÀç°øÇаú ¹Ú°Ç ¹Ú»ç°úÁ¤Àº "ÀüÀÚ Àüµµ ä³Î ºÒ±ÕÀÏÀÌ À¯¹ßÇÑ Àü±ØÀÇ Àü±âÈ­ÇРƯ¼º ÅðÈ­¶ó´Â ÁÖÁ¦·Î ÈÄ¼Ó ¿¬±¸¸¦ ÁøÇà ÁßÀÌ´Ù"¶ó¸ç "³ª³ë½ºÄÉÀÏ ¿µ»óÈ­¸¦ ±â¹ÝÀ¸·Î Áö±Ý²¯ °üÂûÇÏÁö ¸øÇß´ø Çö»óÀ» Ž±¸ÇÒ ¼ö ÀÖ¾î Áñ°Ì´Ù"¶ó°í ¸»Çß´Ù. ±³½Å ÀúÀÚÀÎ È«½Â¹ü ±³¼ö´Â "¿Ö°î ½ÅÈ£ÀÇ ¿øÀÎÀ» ±Ô¸íÇÏ°í, À̸¦ Á¤·®ÀûÀ¸·Î Á¦°ÅÇÏ´Â ¿¬±¸´Â ¿µ»óÈ­ ºÐ¾ß¿¡¼­ ¸Å¿ì Áß¿äÇÏ´Ù"¶ó¸ç "À̹ø¿¡ °³¹ßÇÑ ¹æ¹ý·ÐÀÌ Àü±Ø ³» ÀüÀÚ Àüµµ ä³ÎÀ» °­È­Çϴµ¥ Àû¿ëµÅ, ½Ç¸®ÄÜ ±â¹Ý º¹ÇÕ À½±ØÀÇ °íµµÈ­¸¦ ¾Õ´ç±â´Â µ¥ µµ¿òÀÌ µÇ¸é ÁÁ°Ú´Ù"¶ó°í ¸»Çß´Ù.


¡ã ±×¸² 2. µµÀüÀç Á¾·ù¿¡ µû¸¥ 130 »çÀÌŬ Àü, ÈÄ C-AFM °á°ú ºñ±³

À̹ø ¿¬±¸´Â ±¹Á¦ ÇмúÁö `¿¡À̾¾¿¡½º ¾îÇöóÀÌµå ¸ÓƼ¸®¾óÁî ¾Øµå ÀÎÅÍÆäÀ̽ýº(ACS Applied Materials & Interfaces)'¿¡ °ÔÀçµÆ´Ù.
 
ÇÑÆí À̹ø ¿¬±¸´Â LG¿¡³ÊÁö¼Ö·ç¼Ç-KAIST ÇÁ·ÐƼ¾î ¸®¼­Ä¡ ·¦(Frontier Research Lab)°ú KAIST ±Û·Î¹ú ƯÀÌÁ¡ »ç¾÷ÀÇ Áö¿øÀ» ¹Þ¾Æ ¼öÇàµÆ´Ù.
 
¡á ³í¹® Á¤º¸
*Á¦¸ñ: Nanoscale Visualization of the Electron Conduction Channel in the SiO/Graphite Composite Anode
 
-Ãâó: KAIST News