Ãֽÿµ ȸ¿ø (POSTECH) °øµ¿ ¿¬±¸ÆÀ, ¼ÒÀç Á¡ °áÇÔ ºÐ¼®À» À§ÇÑ µö ·¯´× ±â¼ú °³¹ß
POSTECH ¡¤ ¿¬¼¼´ë °øµ¿ ¿¬±¸ÆÀ, µö ·¯´×(deep learning) ±â¹Ý 2Â÷¿ø ¼ÒÀç ºÐ¼®
AI·Î °áÇÔÀ» ±íÀÌ(deep) ÆÄÇìÄ¡´Ù
 
¿ì¸® ÇÐȸ ȸ¿øÀÎ POSTECH ½Å¼ÒÀç°øÇаú ¹× ¹ÝµµÃ¼°øÇаú Ãֽÿµ ±³¼ö ¡¤ ½Å¼ÒÀç°øÇаú ÅëÇÕ°úÁ¤ ¾çµ¿È¯ ¾¾, ¿¬¼¼´ë Á¤¹ÐÀÇÇаú ¹× º¸°Ç´ëÇпø ¾ç¼¼Á¤ ±³¼ö ¡¤ ÀÇ°øÇаú ÅëÇÕ°úÁ¤ ÃßÀ¯¼º ¾¾ °øµ¿ ¿¬±¸ÆÀÀº µö ·¯´×(deep learning)À» Àû¿ëÇØ ¼ÒÀç Á¡ °áÇÔ ºÐ¼® Àü °øÁ¤ ÀÚµ¿È­¸¦ ±¸ÇöÇÏ´Â µ¥ ¼º°øÇß´Ù. À̹ø ¿¬±¸´Â ±¹Á¦ ÇмúÁöÀÎ ¡®¸ÓƼ¸®¾óÁî È£¶óÀÌÁð½º(Materials Horizons)¡¯¿¡ °ÔÀçµÆ´Ù.
 
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¿øÀÚ ¼öÁØ Á¡ °áÇÔÀ» °üÂûÇϱâ À§ÇØ ÇÇÄÚ¹ÌÅÍ(10-12 m) ´ÜÀ§ÀÇ °ø°£ ºÐÇØ´ÉÀ» °¡Áø ±¸¸é ¼öÂ÷º¸Á¤ ÁÖ»çÅõ°úÀüÀÚÇö¹Ì°æ*1À» »ç¿ëÇÑ´Ù. ±×·¯³ª, ÀÌ Çö¹Ì°æÀ¸·Î ÃÔ¿µÇÑ ÇϳªÀÇ À̹ÌÁö¿¡´Â Àû°Ô´Â ¼ö¹é °³ºÎÅÍ ¸¹°Ô´Â ¼öõ °³±îÁöÀÇ ¿øÀÚ°¡ Æ÷ÇԵǾî ÀÖ¾î, Á¤È®ÇÑ Á¡ °áÇÔ Á¾·ù¿Í °³¼ö Æľǿ¡ ¸¹Àº ½Ã°£°ú ³ë·ÂÀÌ ÇÊ¿äÇß´Ù.
 
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Ãֽÿµ ±³¼ö´Â ¡°À̹ø ¿¬±¸°¡ ´Ù¾çÇÑ ¼ÒÀçÀÇ ¿øÀÚ °áÇÔ ºÐ¼® ¹× ¿øÀÚ ±¸Á¶ ºÐ¼® µ¥ÀÌÅͺ£À̽º ±¸Ãà ¿¬±¸¿¡ Å« µµ¿òÀÌ µÇ±æ ¹Ù¶õ´Ù¡±´Â ±â´ë¸¦ ÀüÇß´Ù.
 
ÇÑÆí, ÀÌ ¿¬±¸´Â Çѱ¹±âÃÊ°úÇÐÁö¿ø¿¬±¸¿ø ±¹°¡¿¬±¸½Ã¼³ÀåºñÁøÈï¼¾ÅÍ, ±âÃÊ°úÇבּ¸¿ø, Çѱ¹¿¬±¸Àç´Ü°ú °úÇбâ¼úÁ¤º¸Åë½ÅºÎÀÇ Áö¿øÀ¸·Î ¼öÇàµÇ¾ú´Ù.
 
¡á ¿ë¾î ¼³¸í
1. ±¸¸é ¼öÂ÷º¸Á¤ ÁÖ»çÅõ°úÀüÀÚÇö¹Ì°æ
Spherical aberration-corrected scanning transmission electron microscopy
2. ¹Ýµ¥¸£¹ß½º(Van der Waals)
Áß¼º ºÐÀÚ »çÀÌ¿¡¼­ ±Ù°Å¸®¿¡¸¸ ÀÛ¿ëÇÏ´Â ¾àÇÑ ÀηÂÀÌ´Ù.
3. 2H-MoTe2
¸ô¸®ºêµ§ µðÅÚ·ç¶óÀ̵åÈ­ÇÕ¹° ¹ÝµµÃ¼¸¦ ¸»ÇÑ´Ù.
¡á ³í¹® Á¤º¸
* Á¦¸ñ: Full automation of point defect detection in transition metal dichalcogenides through a dual mode deep learning algorithm
 
-Ãâó: POSTECH ¿¬±¸¼º°ú